Surf-Cal、粒度標準、50ml 容量、1x10E8 および 1x10E10 濃度 /ml にプレミックス
SURF-CAL™ 粒子サイズ標準は、走査型表面検査システム (SSIS) のサイズ キャリブレーションとモニタリングに使用されます。 以下の粒子サイズは、機器メーカーが要求するキャリブレーション粒子サイズに対応しています。 ウェーハ検査スキャナーが他の場所のスキャナーと比較できるように、定期的なキャリブレーション チェックと毎週のサイズとカウントの監視を完了する必要があります。 すべてのポリスチレン マイクロスフェアは、50 mL あたり 3 × 10 E8 または 1 × 10 E10 粒子の濃度で、1.59 mL ボトル容量の脱イオン濾過水に懸濁されます。 * で示されたサイズは、その直径の NIST SRM 粒子に類似しています。 以下のすべてのポリスチレン微小球の屈折率は、589nm (25℃) で 12 です。 各ボトルは XNUMX か月間安定しており、校正証明書と NIST へのトレーサビリティ証明書が付属しています。
SURF-CAL、NIST トレーサブル PSL (ポリスチレン ラテックス) 球体をベア シリコンおよびパターン ウエハー上に配置することにより、KLA-Tencor、Hitachi、ADE、Topcon SSIS ツールで定期的なサイズ キャリブレーション チェックを実行し、ウエハー検査スキャナーとスキャナーを次の場所で比較できます。他の場所。 また、製造プロセスの重要な段階で SSIS のパフォーマンスを評価することもできます。 すべての製品は、50 x3 e10 粒子/mL または 10 x1 e10 粒子/mL の濃度で、10 mL ボトルの脱イオンろ過水 (DI 水) に懸濁されています。 これらの Surf-Cal 粒子サイズ標準は、微分移動度分析装置 (DMA) またはその他のサイズ排除技術によってサイズ調整されたポリスチレン マイクロスフェアです。
部品番号 |
濃度カウント/ml |
粒子径 |
サイズ分布 |
50mlボトルあたりの価格 |
APPD-047 | 3 x 108 粒子/mL | 0.047ミクロン | 0.004μm |
$ 295.00 カートに入れる |
APPD-047B | 1 x 1010 粒子/mL | 0.047ミクロン | 0.004μm |
$ 1495.00 カートに入れる |
APPD-064 | 3 x 108 粒子/mL | 0.064ミクロン | 0.003μm |
$ 295.00 カートに入れる |
APPD-064B | 1 x 1010 粒子/mL | 0.064ミクロン | 0.003μm |
$ 1495.00 カートに入れる |
APPD-083 | 3 x 108 粒子/mL | 0.083ミクロン | 0.004μm |
$ 295.00 カートに入れる |
AP PD-083B | 1 x 1010 粒子/mL | 0.083ミクロン | 0.004μm |
$ 1495.00 カートに入れる |
AP PD-092 | 3 x 108 粒子/mL | 0.092ミクロン | 0.004μm |
$ 295.00 カートに入れる |
AP PD-092B | 1 x 1010 粒子/mL | 0.092ミクロン | 0.004μm |
$ 1495.00 カートに入れる |
AP PD-100* | 3 x 108 粒子/mL | 0.100ミクロン | 0.003μm |
$ 295.00 カートに入れる |
AP PD-100B※ | 1 x 1010 粒子/mL | 0.100ミクロン | 0.003μm |
$ 1495.00 カートに入れる |
AP PD-125 | 3 x 108 粒子/mL | 0.126ミクロン | 0.003μm |
$ 295.00 カートに入れる |
AP PD-125B | 1 x 1010 粒子/mL | 0.126ミクロン | 0.003μm |
$ 1495.00 カートに入れる |
AP PD-155 | 3 x 108 粒子/mL | 0.155ミクロン | 0.003μm |
$ 295.00 カートに入れる |
AP PD-155B | 1 x 1010 粒子/mL | 0.155ミクロン | 0.003μm |
$ 1495.00 カートに入れる |
AP PD-200 | 3 x 108 粒子/mL | 0.202ミクロン | 0.004μm |
$ 295.00 カートに入れる |
AP PD-200B | 1 x 1010 粒子/mL | 0.202ミクロン | 0.004μm |
$ 1495.00 カートに入れる |
AP PD-204 | 3 x 108 粒子/mL | 0.204ミクロン | 0.004μm |
$ 295.00 カートに入れる |
AP PD-204B | 1 x 1010 粒子/mL | 0.204ミクロン | 0.004μm |
$ 1495.00 カートに入れる |
AP PD-215 | 3 x 108 粒子/mL | 0.220ミクロン | 0.003μm |
$ 295.00 カートに入れる |
AP PD-215B | 1 x 1010 粒子/mL | 0.220ミクロン | 0.003μm |
$ 1495.00 カートに入れる |
AP PD-305 | 3 x 108 粒子/mL | 0.304ミクロン | 0.004μm |
$ 295.00 カートに入れる |
AP PD-305B | 1 x 1010 粒子/mL | 0.304ミクロン | 0.004μm |
$ 1495.00 カートに入れる |
AP PD-365 | 3 x 108 粒子/mL | 0.360ミクロン | 0.005μm |
$ 295.00 カートに入れる |
AP PD-365B | 1 x 1010 粒子/mL | 0.360ミクロン | 0.005μm |
$ 1495.00 カートに入れる |
AP PD-500 | 3 x 108 粒子/mL | 0.498ミクロン | 0.006μm |
$ 295.00 カートに入れる |
AP PD-500B | 1 x 1010 粒子/mL | 0.498ミクロン | 0.006μm |
$ 1495.00 カートに入れる |
AP PD-800 | 3 x 108 粒子/mL | 0.809ミクロン | 0.006μm |
$ 295.00 カートに入れる |
AP PD-800B | 1 x 1010 粒子/mL | 0.809ミクロン | 0.006μm |
$ 1495.00 カートに入れる |
AP PD-802 | 3 x 108 粒子/mL | 0.802ミクロン | 0.009μm |
$ 295.00 カートに入れる |
AP PD-802B | 1 x 1010 粒子/mL | 0.802ミクロン | 0.009μm |
$ 1495.00 カートに入れる |
AP PD1100 | 3 x 108 粒子/mL | 1.112ミクロン | 0.011μm |
$ 295.00 カートに入れる |
AP PD1100B | 1 x 1010 粒子/mL | 1.112ミクロン | 0.011μm |
$ 1495.00 カートに入れる |
AP PD1600 | 3 x 108 粒子/mL | 1.59ミクロン | 0.016μm | $ 295.00 カートに入れる |
AP PD2000 | 3 x 108 粒子/mL | 2.01ミクロン | 0.019μm | $ 295.00 カートに入れる |
AP PD3000 | 3 x 108 粒子/mL | 3.04ミクロン | 0.026μm | $ 295.00 カートに入れる |
測定方法:
NIST のトレーサビリティを保証するために、これらの製品の認定された直径は、透過型電子顕微鏡または光学顕微鏡によって NIST 標準参照物質から転送されました (2)。 不確実性は、NIST テクニカル ノート 1297、1994 年版「NIST 測定結果の不確実性を評価および表現するためのガイドライン」(4) を使用して計算されました。 記載されている不確実性は、カバレッジ ファクターが 2 (K=2) の拡張不確実性です。 ピーク直径は、粒子サイズ分布の約 ± XNUMX 秒の範囲を使用して計算されました。 サイズ分布は、ピーク全体の標準偏差 (SDS) として計算されました。 変動係数 (CV) は、ピーク直径のパーセンテージとして表される XNUMX つの標準偏差です。 FWHM (半値全幅) 分布は、ピーク直径のパーセンテージとして表されるピーク高さの半分での分布として計算されました。
1. 「半導体の国家技術ロードマップ」、半導体工業会 (1999)
2. SD Duke および EB Layendecker、「電子顕微鏡によるサブミクロン球状粒子のサイズ校正のための内部標準法」、Fine Particle Society (1988)
3。 SEMI M52 —シリコンウェーハの表面検査システムを指定するためのガイド、130 nm Technology Generation。
4. Barry N. Taylor および Chris E. Kuyatt、「NIST 測定結果の不確実性を評価および表現するためのガイドライン」。 NIST テクニカル ノート 1297、1994 年版、1994 年 XNUMX 月。